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2024-07-31FA-A(I)系列 万分位内校大量程分析天平包括拥有较高测量性能的分析天平。它们配备了高度集成的称重传感器,这种传感器具有很高的稳定性,不因温度变化和时间流逝而改变,并由于质量减小、组件总数减少而具有快速响应能力。
JA/JA-N系列 内校分析电子天平功能:电磁力传感器(JA-N自动内校款),铸铝外壳/超大空间防风罩。