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FA314AI万分位内校分析天平

FA314AI万分位内校分析天平配备了高度集成的称重传感器,这种传感器具有很高的稳定性,不因温度变化和时间流逝而改变,并由于质量减小、组件总数减少而具有快速响应能力。

发布日期:2025-03-25

型号:FA314AI

厂商性质:经销商

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FA205SEM-ION十万分之一天平

FA205SEM-ION 十万分之一天平一键触发内校/全自动时间触发内校,支持多语言:英/德/法/意/西班牙语/葡萄牙语。

发布日期:2025-03-25

型号:FA205SEM-ION

厂商性质:经销商

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